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期刊
ISSN
2043-0647
刊名
Microscopy and Analysis
参考译名
显微镜学与分析——亚太版
收藏年代
2008~2016
全部
2008
2009
2010
2011
2012
2013
2014
2015
2016
2016
2016, no.Suppl.
题名
作者
出版年
年卷期
Advances in ex situ lift-out and specimen preparation manipulation methods
Lucille A. Giannuzzi
2016
2016, no.Suppl.
WITec
Chris Parmenter
2016
2016, no.Suppl.
PARK SYSTEMS
Chris Parmenter
2016
2016, no.Suppl.
HITACHI HIGH-TECH SCIENCE
Chris Parmenter
2016
2016, no.Suppl.
BRUKER NANO SURFACES
Khaled Kaja; Peter De Wolf
2016
2016, no.Suppl.
OXFORD INSTRUMENTS ASYLUM RESEARCH AFMs
O. Katsamenis; T. Boughen; P. J. Thurner
2016
2016, no.Suppl.
OXFORD INSTRUMENTS ASYLUM RESEARCH AFMs
Chris Parmenter
2016
2016, no.Suppl.
Layers of understanding: AFM characterization of thin-film structure and properties
Donna Hurley; Florian Johann; Keith Jones; Marta Kocun; Jianjun Yao; Jason Li; Ben Ohler
2016
2016, no.Suppl.
Bruker microCT
Chris Parmenter
2016
2016, no.Suppl.
Andor Technology: Imaging Cameras and Microscopy Systems
Chris Parmenter
2016
2016, no.Suppl.
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