长垣产业园区科技文献服务平台
主页
文献资源
外文期刊
外文会议
中文期刊
专业机构
起重机械
智能制造
高级检索
关于我们
版权声明
使用帮助
期刊
ISSN
0958-1952
刊名
Microscopy and Analysis
参考译名
显微镜学与分析——英国版
收藏年代
2008~2012
全部
2008
2009
2010
2011
2012
2008
2008, no.1 suppl
2008, no.123
2008, no.124
2008, no.125
2008, no.127
2008, no.128
题名
作者
出版年
年卷期
Advanced Monochromatic STEM for Nano-Electronics Industry Applications
C. H. Tung; M. Bosman; C. K. Cheng
2008
2008
Microscopy of Semiconductor Nano- and Microwires with Waveguiding Behaviour
Javier Piqueras; Pedro Hidalgo; Emilio Nogales; Bianchi Mendez; Jose Angel Garcia
2008
2008
Scanning Transmission Electron Microscopy: A Tool for Biology and Materials Science
Vlad Stolojan
2008
2008
Fractography of Brittle Materials: Analysis of Fractures in Ceramics and Glasses
George D. Quinn
2008
2008
国家科技图书文献中心
全球文献资源网
京ICP备05055788号-26
机械工业信息研究院 2018-2024