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期刊
ISSN
0958-1952
刊名
Microscopy and Analysis
参考译名
显微镜学与分析——英国版
收藏年代
2008～2012
全部
2008
2009
2010
2011
2012
2010
题名
作者
出版年
年卷期
Development of a Cold Field-Emission Gun for a 200kV Atomic Resolution Electron Microscope
Yuji Kohno; Eiji Okunishi; Takeshi Tomita; Isamu Ishikawa; Toshikatsu Kaneyama; Yoshihiro Ohkura; Yukihito Kondo; Thomas Isabell
2010
2010
Nanoscale Chemical Compositional Analysis with an Innovative S/TEM-EDX System
Peter Schlossmacher; Dmitri O. Klenov; Bert Freitag; Sebastian von Harrach; Andy Steinbach
2010
2010
Mesostructure and Adsorption Isotherm of Hybrid Organosilica Molecular Sieve
Eduardo R. Magdaluyo, Jr.; Raymond V. Rivera Virtudazo; Emily V. Castriciones
2010
2010
Helium Ion Beam Processing for Nano-fabrication and Beam-Induced Chemistry
Paul Alkemade; Vadim Sidorkin; Ping Chen; Emile van der Drift; Anja van Langen; Diederik Maas; Emile van Veldhoven; Larry Scipioni
2010
2010
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