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期刊
ISSN
2043-0655
刊名
Microscopy and Analysis
参考译名
显微镜学与分析——欧洲版
收藏年代
2008~2012
全部
2008
2009
2010
2011
2012
2010
2010, vol.2010 SUPPL..
题名
作者
出版年
年卷期
Carl Zeiss NTS
Julian P. Heath
2010
2010, vol.2010 SUPPL..
Tescan
Julian P. Heath
2010
2010, vol.2010 SUPPL..
SkyScan
Julian P. Heath
2010
2010, vol.2010 SUPPL..
Olympus Soft Imaging Solutions
Julian P. Heath
2010
2010, vol.2010 SUPPL..
Olympus Microscopy: Microscopy for every application and every user
Julian P. Heath
2010
2010, vol.2010 SUPPL..
FEI
Julian P. Heath
2010
2010, vol.2010 SUPPL..
Electron Microscopy Sciences
Julian P. Heath
2010
2010, vol.2010 SUPPL..
2009 under the Microscope: Advanced Imaging and Superresolution LM Systems
Julian P. Heath
2010
2010, vol.2010 SUPPL..
Development of a Cold Field-Emission Gun for a 200kV Atomic Resolution Electron Microscope
Yuji Kohno; Eiji Okunishi; Takeshi Tomita; Isamu Ishikawa; Toshikatsu Kaneyama; Yoshihiro Ohkura; Yukihito Kondo; Thomas Isabell
2010
2010
Nanoscale Chemical Compositional Analysis with an Innovative S/TEM-EDX System
Peter Schlossmacher; Dmitri O. Klenov; Bert Freitag; Sebastian von Harrach; Andy Steinbach
2010
2010
1
2
3
4
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