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期刊


ISSN2432-6380
刊名電子情報通信学会技術研究報告
参考译名电子信息通信学会技术研究报告
收藏年代2018~2021



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2020, vol.120, no.262 2020, vol.120, no.264 2020, vol.120, no.266 2020, vol.120, no.270 2020, vol.120, no.271 2020, vol.120, no.276
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2020, vol.120, no.57 2020, vol.120, no.62 2020, vol.120, no.64 2020, vol.120, no.78 2020, vol.120, no.79 2020, vol.120, no.80
2020, vol.120, no.82 2020, vol.120, no.93 2020, vol.120, no.95

题名作者出版年年卷期
A Novel High Performance Scan-Test-Aware Hardened Latch DesignRuijun MA; Stefan HOLST; Xiaoqing WEN; Aibin YAN; Hui XU20202020, vol.120, no.358
FPGAの配線遅延の影響を考慮した製造ばらつき測定方法の検討堤信吾; 三浦幸也20202020, vol.120, no.358
ランダムばらつきを考慮した電力サイドチャネルの学習によるハードウェアトロイ回路の検出手法井上美智子; Riaz-Ul-Haque MIAN20202020, vol.120, no.358
メモリのサイズおよび形状に起因するロジック部の高消費電力エリア特定に関する研究高藤大輝; 星野龍; 宮瀬紘平; 温暁青; 梶原誠司20202020, vol.120, no.358
CNNによるLSIレイアウト画像分類におけるデータ拡張手法の検討村川魁; 永村美一; 新井雅之; 福本聡20202020, vol.120, no.358
RTLハードウェア要素のテストスケジューリング情報を用いた多重目標故障テスト生成法浅見竜輝; 細川利典; 山崎紘史; 吉村正義; 新井雅之20202020, vol.120, no.358
マルチサイクルテストにおける故障検出率の推定法中岡典弘; 王森レイ; 樋上喜信; 高橋寬; 岩田浩幸; 前田洋一; 松嶋潤20202020, vol.120, no.358
テスト容易化機能的時間展開モデルの情報を用いたテスト生成法中村健太; 石山悠太; 細川利典20202020, vol.120, no.358
レジスタ転送レベルにおける非スキャンベースフィールドテスタビリティに基づく制御信号のドントケア割当て法池ヶ谷祐輝; 石山悠太; 細川利典; 吉村正義20202020, vol.120, no.358
CANバス上の単一ビットエラーによるオーバーヘッドの考察佐藤諒平; 北林友樹; 福本聡20202020, vol.120, no.358
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