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期刊


ISSN2432-6380
刊名電子情報通信学会技術研究報告
参考译名电子信息通信学会技术研究报告
收藏年代2018～2021



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2018, vol.118, no.107 2018, vol.118, no.109 2018, vol.118, no.111 2018, vol.118, no.116 2018, vol.118, no.137 2018, vol.118, no.138
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2018, vol.118, no.94

题名作者出版年年卷期
Variational Autoencoder-Based Efficient Test Escape DetectionMichihiro SHINTANI; Kouichi KUMAKI; Michiko INOUE20182018, vol.118, no.456
An Efficient Approach to Recycled FPGA Detection Using WID Variation ModelingFoisal AHMED; Michihiro SHINTANI; Michiko INOUE20182018, vol.118, no.456
クリティカルエリアを考慮した2パターンテスト生成における故障選択に関する一考察内山直也; 新井雅之20182018, vol.118, no.456
キャプチャセーフテストベクトルの故障伝搬経路を模倣した低消費電力志向ドントケア判定法三澤健一郎; 細川利典; 山崎紘史; 吉村正義20182018, vol.118, no.456
LSIのホットスポット分布の解析に関する研究河野雄大; 宮瀬紘平; 呂學坤; 温暁青; 梶原誠司20182018, vol.118, no.456
製造検査時における組込み自己テスト回路を利用した効率的なPUF回路のチャレンジレスポンス対の生成と評価三野智貴; 新谷道広; 井上美智子20182018, vol.118, no.456
期待署名自己生成に基づく組込み自己診断機構平本悠翔郎; 大竹哲史; 高橋寛20182018, vol.118, no.456
コントローラの遷移故障検出率向上のための状態割当て手法吉村正義; 竹内勇希; 山崎紘史; 細川利典20182018, vol.118, no.456
マルチサイクルテストにおける故障検出強化のためのFFトグル制御ポイントの選択法青野智己; Hanan T. Al-Awadhi; 王森レイ; 樋上喜信; 高橋寛; 岩田浩幸; 前田洋一; 松嶋潤20182018, vol.118, no.456
コントローラのテスト活性化用状態圧縮法池ヶ谷祐輝; 石山悠太; 細川利典; 山崎紘史20182018, vol.118, no.456
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